多功能涂層測(cè)厚儀 型號(hào):100-3 庫(kù)號(hào) M403213   

本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

多功能涂層測(cè)厚儀 型號(hào):100-3 庫(kù)號(hào) M403213   
　　本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)的儀器。

多功能涂層測(cè)厚儀 型號(hào):100-3 庫(kù)號(hào) M403213   
滿足JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x 
主要技術(shù)指標(biāo) 
　　使用環(huán)境溫度：0～40℃ 
　　電源：    5V電池
外型尺寸：150×80×30mm 
　　重量：300g 
測(cè)量范圍:F1、N1、 0-------1500
F1/90 0-------1250   
         F400、N400 0---400  
F3000/N3000 0-3000um   
         F10- 0------10000     
測(cè)量誤差：F1、N1(0-1250um)、F1/90---- （2%H+1）；二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1％
          F400、N400--- （2%H+0.7）二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1％       F10（0-10000um)----- （2%H+10）   二點(diǎn)石 校準(zhǔn)精度1％
 主要功能：
　1.可使用各種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、N400等)進(jìn)行測(cè)量；
　2.三種校準(zhǔn)方法： 一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、基本校準(zhǔn)；
　3.顯示分辨率： 0.1μm (1250um以下，1250um以上是1um)  
4.小測(cè)量面積: 小測(cè)量面積:10*8mm
5.小曲率：凸5mm;凹25mm
6.設(shè)有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能：大值（MAX）、小值（MIN）、平均值（MEA）、測(cè)量次數(shù)（No）
7.設(shè)五個(gè)統(tǒng)計(jì)量，存儲(chǔ)800個(gè)數(shù)據(jù)。
標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī) 1臺(tái)
探頭（F1或N1） 1支
基體 1塊
標(biāo)準(zhǔn)片 5片
5V堿性電池 2節(jié)
使用說(shuō)明書(shū) 1本
可選件
其他型號(hào)探頭 
打印機(jī) 1臺(tái) 
通訊電纜 1條 
軟件光碟 1張
LT系列儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
探頭 F400 F1 F1/90 F10 N400 N1
測(cè)量原理 磁性 渦流
測(cè)量范圍（μm） 0～400 0～1250 0～10mm 0～400 0～1250
測(cè)量精度μm 一點(diǎn)校準(zhǔn) ±（1～3％H+0.7） ±（3％H+1） ±（3％H+10） ±（3％H+1） ±（3％H+1.5）
二點(diǎn)校準(zhǔn) ±（1～3％H+0.7） ±（1～3％H+1） ±（1～3％H+10） ±（1～3％H+1） ±（1～3％H+1.5）
低限分辨率 0.1 0.1 1 0.1 0.1
小曲率半徑(mm) (凸)1 1.5 平直 10 1.5 3
小面積直徑(mm) ¢3 ¢7 ¢40 ¢4 ¢5
基本臨界厚度(mm) 0.2 0.5 2 0.3 0.3

測(cè)頭選用參考表
覆蓋層基體 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等） 非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
覆蓋層厚度不超過(guò)100μm 覆蓋層厚度超過(guò)100μm 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm 覆蓋層厚度超過(guò)100μm
如鐵、鋼等磁性金屬 被測(cè)面積直徑大于30mm F400型測(cè)頭0～400μm 
F1型測(cè)頭
0～1250μm F1型測(cè)頭
0～1250μm 
F10型測(cè)頭
0～10μm F400型測(cè)頭0～400μm 
F1型測(cè)頭
0～1250μm F1型測(cè)頭
0～1250μm 
F10型測(cè)頭
0～10μm
被測(cè)面積直徑小于30mm F400型測(cè)頭0～400μm F400型測(cè)頭0～400μm 
F1型測(cè)頭
0～1250μm F400型測(cè)頭0～400μm F400型測(cè)頭0～400μm 
F1型測(cè)頭
0～1250μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 被測(cè)面積直徑大于10mm N1型測(cè)頭0～1250μm
N400測(cè)頭0～400μm 僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm
被測(cè)面積直徑大于10mm N400測(cè)頭0～400μm N400測(cè)頭0～40μm
塑料、印刷線路非金屬基體 被測(cè)面積直徑大于7mm - - CN02型測(cè)頭10～200μm